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簡要描述:建筑工程質(zhì)量檢測器組校準(zhǔn)裝置是我公司嚴(yán)格按照《JF1110-2003建筑工程質(zhì)量檢測器組校準(zhǔn)規(guī)范》研發(fā)生產(chǎn)的,用來檢測建筑工程質(zhì)量檢測器組中垂直檢測尺,內(nèi)外直角檢測尺、楔形塞尺的示值誤差的專用校準(zhǔn)裝置。該裝置的垂直主體采用穩(wěn)定性很好的花崗巖,高精度測微頭,能夠調(diào)整水平的花崗巖底座組成。
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一、儀器簡介:
建筑工程質(zhì)量檢測器組校準(zhǔn)裝置是我公司嚴(yán)格按照《JF1110-2003建筑工程質(zhì)量檢測器組校準(zhǔn)規(guī)范》研發(fā)生產(chǎn)的,用來檢測建筑工程質(zhì)量檢測器組中垂直檢測尺,內(nèi)外直角檢測尺、楔形塞尺的示值誤差的專用校準(zhǔn)裝置。該裝置的垂直主體采用穩(wěn)定性很好的花崗巖,高精度測微頭,能夠調(diào)整水平的花崗巖底座組成。
二、儀器組成:
該校準(zhǔn)裝置由XR-2000C型垂直度檢測尺校準(zhǔn)裝置和XR-300Z型內(nèi)外直角檢測尺校準(zhǔn)裝置兩臺儀器組成。XR-2000C型垂直度檢測尺校準(zhǔn)裝置用于檢測垂直檢測尺的示值誤差,XR-300Z型內(nèi)外直角尺校準(zhǔn)裝置用于檢測內(nèi)外直角檢測尺和楔形塞尺的示值誤差。
三、工作原理:
建筑工程質(zhì)量檢測器組校準(zhǔn)裝置采用比較法測量,由數(shù)顯測微頭行進(jìn)距離與回轉(zhuǎn)軸軸線、導(dǎo)軸軸線間距離L1之比組成標(biāo)準(zhǔn)角β1(sinβ1= L1/R),比較測量垂直度檢測尺轉(zhuǎn)角β2(sinβ2=L2/R)的示值誤差,其原理是采用數(shù)顯測微頭螺旋副等進(jìn)傳動(dòng)原理,使螺桿的回轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)變?yōu)橹本€運(yùn)動(dòng),將垂直度檢測尺的角位移轉(zhuǎn)化為直線位移,用線值表示示值誤差ΔL=L2-L1。
測量原理:L1:數(shù)顯測微頭行進(jìn)距離mm;L2:垂直度檢測尺示值mm;β1:標(biāo)準(zhǔn)角;β2:垂直度檢測尺轉(zhuǎn)角;R:回轉(zhuǎn)軸軸線、導(dǎo)軸軸線間距離mm;ΔL:示值誤差:mm。
三、XR-2000C型垂直度檢測尺校準(zhǔn)裝置的結(jié)構(gòu)圖和技術(shù)參數(shù):
1、結(jié)構(gòu)圖如下圖所示:
2、技術(shù)參數(shù):
(1)型號:XR-2000C型;
(2)高度:1980±1mm;
(3)數(shù)顯測微頭分辨力:0.001mm/m;
(4)數(shù)顯測微頭行程:0-50mm;
(5)數(shù)顯測微頭誤差:±0.004mm。
四、XR-300Z型內(nèi)外直角尺校準(zhǔn)裝置的結(jié)構(gòu)圖和技術(shù)參數(shù):
1、結(jié)構(gòu)圖如下圖所示:
2、技術(shù)參數(shù):
(1)型號:XR-300Z;
(2)高度:300mm;
(3)寬度:250mm;
(4)厚度:50mm;
(5)工作面的相互垂直度:0.01mm/300;
(6)工作面的平面度:0.005mm;
(7)數(shù)顯測微頭分辨力:0.001mm/m;
(8)數(shù)顯測微頭行程:0-25mm;
(9)數(shù)顯測微頭誤差:±0.004mm;
(10)花崗巖平板的平面度:0.005mm(800X300X150);
(11)花崗巖外形尺寸:(800X300X150)mm。
五、儀器配置:
1、XR-2000C型垂直度檢測尺校準(zhǔn)裝置:1臺(含第三方計(jì)量證書);
2、XR-300Z型內(nèi)外直角檢測尺校準(zhǔn)裝置(含楔形塞尺檢測支架):1臺(含第三方計(jì)量證書);
3、水平調(diào)整支腳:1套;
4、使用說明書:1份;
5、出廠合格證書:1份;
6、產(chǎn)品保修卡:1份;
7、產(chǎn)品裝箱清單:1份。
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